Линейка стендов для испытаний транзисторов «СИТ»

Линейка стендов для электротермотренировки испытаний ЭКБ под шифром «СИТ» была разработана АО «НИИЭТ» в 2021 году под собственные нужды института. Основным преимуществом разработанных стендов стало применение контактного метода термостатирования с помощью теплоотводящих пластин с жидкостным теплообменом, что обеспечило высокую точность поддержания температуры корпусов компонентов с большим тепловыделением, а также индивидуальный контроль температуры каждого испытываемого компонента.

Дополнительно был разработан Испытательный стенд «СИТ-210» имеющий воздушное термостатирование ,расширенную область загрузки – возможность размещения 21 платы (от 10 до 50 микросхем каждая), температуру воздействия до + 150 градусов, программируемое устройство задания тестовых последовательностей.
В линейке испытательных стендов также есть модели «СИТ-30», «СИТ-50», «СИТ-70», отличающихся количеством загрузки изделий.

Стенды линейки «СИТ» могут применяться для испытаний опытных образцов вновь разрабатываемых электронных компонентов, определения предельных режимов работы, для испытаний компонентной базы для таких областей применения, как автомобильная электроника, медицинская техника, промышленная автоматика и в других сферах. А также использоваться для испытаний под нагрузкой не только дискретных компонентов, но и микросхем с повышенным тепловыделением, например, усилителей или ИС источников питания.

Оформить заявку на приобретение испытательного оборудования возможно на сайте производителя АО «НИИЭТ»